Kongres Metrologii to cykliczna krajowa konferencja naukowa, w której udział bierze większość krajowych ośrodków zajmujących się metrologią i jej zastosowaniem. Patronat naukowy nad Kongresem piastuje Komitet Metrologii i Aparatury Naukowej Polskiej Akademii Nauk. Obecny, VIII Kongres Metrologii 2019, organizowany jest przez Wydział Elektryczny oraz Wydział Mechaniczny Politechniki Białostockiej.
Kongres odbędzie się w dniach 9-12 czerwca 2019 roku w Oficerskim Yacht Clubie RP “Pacific” w Augustowie.
Przewodniczącym Komitetu Naukowego Kongresu jest prof. dr hab. inż. Janusz Gajda, przewodniczący Komitetu Metrologii i Aparatury Naukowej Polskiej Akademii Nauk.
Patronem honorowym Kongresu jest Rektor Politechniki Białostockiej prof. dr hab. inż. Lech Dzienis.
Przewodniczącymi Kongresu są prof. dr hab. inż. Andrzej Zając z Wydziału Elektrycznego PB oraz prof. dr hab. inż. Andrzej Seweryn Dziekan Wydziału Mechanicznego PB.
Oficjalnym językiem Kongresu jest język polski.
Tematyka Kongresu dotyczy najważniejszych problemów współczesnej metrologii, obejmując następujące obszary tematyczne:
- wzorce jednostek miar, służba miar,
- ocena dokładności pomiaru,
- systemy pomiarowe i transmisja danych,
- przetworniki pomiarowe, metody przetwarzania sygnałów,
- pomiary wielkości mechanicznych,
- pomiary wielkości elektrycznych,
- pomiary wielkości geometrycznych,
- pomiary wielkości chemicznych,
- pomiary temperatury,
- metrologia w procesach przemysłowych,
- inżynieria materiałowa,
- metrologia optyczna i fotoniczna, z elementami metrologii układów kwantowych,
- pomiary w medycynie,
- pomiary geodezyjne i budowlane,
- nowe kierunki w metrologii.
Szczegółowe informacje na temat VIII Kongresu Metrologii 2019 na stronie konferencji.
Zapraszamy do udziału w Kongresie przedstawicieli różnych środowisk i dyscyplin naukowych, pracowników administracji publicznej oraz przedstawicieli biznesu zainteresowanych przedstawioną problematyką. Celem Kongresu Metrologii jest wymiana poglądów i doświadczeń oraz prezentacja wyników badań dotyczących problemów współczesnej metrologii.